A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀
更新時(shí)間:2024-01-18
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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類(lèi)產(chǎn)品中都處于先地位。
大量程激光粒度儀A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時(shí)獲得過(guò)去三臺機器的全部功效,使用更加便捷。
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